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上扬软件受邀参加SEMI信息控制标准及应用技术研讨会

2021-11-15 17:30| 发布者: 上扬软件| 查看: 2366

      由SEMI中国主办的“SEMI信息控制标准及应用技术研讨会”于2021年11月16日在上海长三角资本市场服务基地举行。此次研讨会重点探讨了各类标准在泛半导体行业中的应用,比如GEM, SECS, Interface A, EDA等标准。


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      上扬软件技术总监甄伟先生,应邀分享了题为“智能制造创新与应用”的主题演讲,和现场观众探讨了从设备智能创新、互联云服务创新、应用系统智能创新三方面实现智能制造创新,通过边缘计算实现大数据应用和深度学习。


      上扬软件始终致力于通过产品创新推动智能制造分级建议,例如myCIM4.0 MES的持续研发推动了半导体工厂自动化转型、应对国内半导体功能需求挑战


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